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奧林巴斯探傷儀可更換延遲塊探頭V204-RM
詳細信息| 詢價留言品牌：奧林巴斯 型號：V204-RM 加工定制：是 適用對象：探傷測厚儀探頭 型號：V204-RM 加工定制：是 奧林巴斯探傷儀可更換延遲塊探頭V204-RM
介紹
Olympus公司是一家專營光學、電子及精密工程產品，涉及工業、醫療及消費市場的跨國公司。Olympus生產的儀器有助于保證產品質
量，提高基礎設施及設備的安全性。
Olympus NDT公司是全球領先的生產創新型無損檢測和測量儀器的企業。其生產的儀器應用于包括航空航天、電力、石油化工、民用
基礎設施、汽車以及消費產品在內的各種工業和研究領域。其掌握的前沿檢測技術包括超聲、超聲相控陣、渦流、渦流陣列、顯微鏡
檢查、光學計量，以及X光熒光分析。其生產的產品包括探傷儀、測厚儀、工業NDT系統及掃查器、視頻鏡、管道鏡、高速視頻攝像機、
顯微鏡、便攜式X光分析儀、探頭及各種輔助設備。
Olympus NDT公司的總部設在美國馬薩諸塞州的沃爾瑟姆，并在世界范圍內的各大主要工業地區都設有銷售和服務中心。
Panametrics超聲探頭
我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經驗的Olympus
NDT已經開發了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應用的各種各樣的定制探頭
可更換延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和 一個固定環。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
優勢
• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區域有限的工件進行檢測。
奧林巴斯探傷儀 測厚儀可更換延遲塊探頭
選購型號:頻率 標稱
晶片尺寸探頭工件編號 MHz 英寸 毫米 2.25 0.25 6 V204-RM 5 0.50 13 V206-RM 0.25 6 V201-RM 10 0.25 6 V202-RM 0.125 3 V203-RM 15 0.25 6 V205-RM 20 0.125 3 V208-RM
可更換延遲塊探頭選項標準
晶片尺寸標稱
延遲塊高溫 干耦合
延遲塊備用固定環 帶有彈簧的支架 *高175°C
(350°F)*高260°C
(500°F)*高480°C
(900°F)英寸 毫米 0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130 0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127&DRR-1H 0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133&DRR-3H 
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留 言
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